Bertin Alpao波前传感器采用夏克 – 哈特曼(Shack-Hartmann)技术。
该技术通过微透镜阵列对入射光波进行精密解析,将局部波前斜率转换为精准的波前重构结果。 最终可实现高分辨率、实时的光学像差检测。
无论是用于科研、工业生产还是高端应用场景,夏克 – 哈特曼波前传感器均能提供稳定、可靠、高效的解决方案,将您的光学系统性能提升至全新高度。

主要特性与优势
- 采用夏克‑哈特曼结构,提升波前测量精度
- 覆盖多光谱范围:紫外 – 可见光 – 近红外 – 短波红外
- 高速度特性缩短校正响应时间
- 高灵敏度可校正极其微小的光学畸变
- 低延迟特性实现波前畸变实时反馈
主要特点
- 专为自适应光学应用而设计
- 帧频最高达31.8 KHz
- 延迟时间最短5 μs
- 最大量子效率高达95%
产品型号
|
型号 |
尺寸 |
速度 |
灵敏度 |
光学性能 |
|||||||
|
子孔径数量 |
子孔径尺寸 mm |
有效孔径 mm |
标准采集频率 Hz |
最大采集频率1 ROI模式下 Hz |
量子效率 探测器最大 |
信噪比 SNR = 1 时的光子数 |
读出噪声 e⁻RMS |
倾斜/离焦测量范围 μm PV |
重复度 nm RMS |
纳米 光谱响应范围 |
|
|
SH-CMOS |
50×50 |
96.6 |
4.83 |
119 |
449 |
67% |
100 |
2.0 |
63/15 |
2 |
400-800 |
|
SH-CMOS fast |
64×64 |
112 |
7.17 |
1733 |
37123 |
50% |
1000 |
37 |
96/24 |
2 |
400-800 |
|
SH-sCMOS |
64×64 |
144 |
9.216 |
514 |
2377 |
73% |
80 |
2.33 |
150/37 |
2 |
400-800 |
|
SH-EMCCD |
16×16 |
192 |
3.07 |
1025 |
2392 |
95% |
3 |
0.1 |
13/3 |
2 |
400-800 |
|
SH-EMCCD fast1 |
24×24 |
240 |
5.76 |
2067 |
2067 |
95%2 |
5 |
0.3 |
45/11 |
2 |
400-800 |
|
SH-InGaAs fast1 |
64×64 |
120 |
7.68 |
697 |
9590 |
80%3 |
400 |
40 |
108/27 |
2 |
950-1700 |
|
SH-sCMOS UV Ext |
64×64 |
144 |
9.216 |
514 |
2377 |
73% |
80 |
2.33 |
150/37 |
2 |
200-800 |
备注:
* 更多内容请下载完整产品手册,查看速度参数表和测量范围参数表
* 以上所有产品兼容ALPAO自适应光学软件ACE和自适应光学实时运算平台RTC。
1 SH-EMCCD fast 和 SH-InGaAs fast 这两款WFS都配有水冷系统;
2. 在-45℃测量;
3. 在20℃测量
选型指导


SH-EMCCD(蓝色实线),SH-EMCCD fast(蓝色虚线),SH-CMOS(红色实线)和SH-CMOS fast(红色虚线)的典型量子效率

SH-InGaAs-fast(工作于20℃)的典型量子效率