Phasics SID4 系列 全波段四波剪切干涉传感器

　　一、产品概述📋

　　Phasics 四波剪切干涉波前传感器，搭载专利 QWLSI 四波横向剪切干涉技术，属于新一代波前检测设备。该技术作为传统哈特曼以及夏克哈特曼技术的升级方案，使用衍射光栅，替代早期的孔阵以及微透镜阵列结构，专为解决夏克‑哈特曼传感器空间分辨率不足的问题而开发。

　　该技术 2004 年正式推向市场，凭借高分辨率，消色差，可直接测量发散光束等特点，广泛用于激光检测，光学元件计量，定量相位成像以及自适应光学领域。传感器产品线覆盖紫外、可见光、短波红外至远红外全波段，丰富型号可以匹配各类科研与工业检测场景。

　　二、核心技术原理🔍

　　QWLSI 四波横向剪切干涉技术依靠特制衍射光栅完成工作。入射光束经过光栅之后复制生成四束相同光波，光束传播一段距离后发生交叠干涉，在探测器面生成干涉图样。光束的波前相位梯度信息会体现在干涉条纹形变当中，设备通过解析干涉条纹，还原出完整的光束相位与光强分布，实现纳米级灵敏度的波前测量。

　　对比传统干涉设备，该方案不需要干涉参考臂，设备抗震动能力强，也不用额外配置中继透镜就可以完成发散光束检测，整机结构紧凑，方便系统集成。

　　三、核心型号简表📊

　　型号波长范围采样速度接口类型重量

　　SID4 UV190400nm大于 30fps以太网口约 250g

　　SID4 V4001100nm60fps以太网口约 250g

　　SID44001100nm60fps以太网口约 400g

　　SID4 SWIR0.91.7μm30fps以太网口约 500g

　　SID4 LWIR814μm24fps以太网口约 850g

　　四、产品主要优势💡

　　✅超高空间分辨率

　　空间分辨率可达传统夏克哈特曼传感器的四倍，获取更加精细的波前细节信息。

　　✅全谱段消色差特性

　　本身不存在色差限制，检测光谱范围只取决于配套探测器，覆盖紫外一直到远红外波段。

　　✅大动态范围测量

　　无需中继透镜，直接测量强发散光束。设备无参考臂结构，对环境震动不敏感，现场使用稳定性高。

　　✅丰富完整产品线

　　从紫外 190 nm到远红外 14 μm均有对应型号，部分特殊子型号支持 Camera Link、USB 接口，SID4‑V 可适配真空工况，满足不同集成需求。

　　五、应用场景与咨询📞

　　该系列传感器适用场景包含激光光束质量检测，光学元件计量检测，定量相位成像，自适应光学系统等。

　　上海兮锘光学有限公司作为代理商，可提供产品选型，技术资料以及配套技术对接服务，欢迎咨询。

　　联系电话 18616772132，微信同号。